SiC 웨이퍼 세정 공정이 소자 수율에 미치는 영향
SiC 웨이퍼의 품질은 결정 결함, 두께 균일도, 평탄도와 표면 거칠기만으로 결정되지 않습니다. 웨이퍼 표면에 남아 있는 미세 파티클, 금속 이온, 유기물, 연마 슬러리 및 세정액 잔류물 역시 에피택시 성장과 소자 제조 수율에 직접적인 영향을 줄 수 있습니다. 특히 SiC 전력 반도체는 고전압과 고온 환경에서 작동하기 때문에 미세한 표면 오염도 누설 전류, 산화막 신뢰성 저하, 접촉 […]
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